NECは2014年6月20日、米NIST(米国立標準技術研究所)の
顔認証技術ベンチマークテスト「Face Recognition Vender Test」において、照合エラー率と検索速度が1位を獲得したと発表した。
NISTは顔認証技術を評価するために、2009年に「Multiple Biometric Grand Challenge」、
2010年に「Multiple Biometrics Evaluation」というプログラムを開催しているが、NECはこれらの評価でも1位を獲得しており、
今回を含めて3回連続で1位を獲得したことになる。
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NISTは顔認証技術を評価するために、2009年に「Multiple Biometric Grand Challenge」、
2010年に「Multiple Biometrics Evaluation」というプログラムを開催しているが、NECはこれらの評価でも1位を獲得しており、
今回を含めて3回連続で1位を獲得したことになる。